“*线衍*”可以造什么句,*线衍*造句

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*线衍*造句

用X*线衍*表征样品的结构。

X*线衍*鉴定均为单一相钙钛矿型氧化物。

合成的碳化钛粉体用X—*线衍*仪及透*电镜表征。

其中透*电镜观察法和X*线衍*线宽法由于技术成熟,是现在纳米颗粒测试的主要方法;

用扫描电镜、透*电镜、X*线衍*、接触角测量等技术对表面进行了表征。

用x*线衍*、x*线光电子能谱、x*线电子探针、红外光谱等方法对分子筛进行了结构研究,并用阶梯扫描方法测得其晶胞参数。

采用X*线衍*法研究温水浸渍法脱胶和酶法脱胶过程中亚麻纤维结晶度、取向度的变化情况。

采用X-*线衍*仪、透*电镜研究了可锻铸铁白口组织中硅对共晶渗碳体点阵参数、晶胞体积及晶体缺陷的影响。

本文提出了一个采用傅立叶级数合成方法分析X*线衍*线形来确定金属多晶体中晶块尺寸及微畸变的方法。

用x -*线衍*法研究了聚*基*烯*对猪皮的鞣制机理,并对其与聚*烯*鞣剂的鞣制效果进行了比较。

利用金相显微镜、X*线衍*仪、电子探针及滑动磨损试验机,研究了合金熔覆层的显微组织及*能。

Rodney J.B. 教授 :1971佛罗里达大学博士。研究方向是物理化学和量子化学,包括预测分子的势能表面,通过X-*线衍*的方法测定半导体的结构,杂环和高分子的动力学。

本发明提供了一种无定形头孢地嗪*,该无定形的X-*线衍*图中未出现X-*线衍*峰;

采用X*线衍*方法精确测定钨粉和钴粉的点阵常数。

根据*氧化镍电极材料的x*线衍*谱线的各向异*宽化特*,提出层错结构表征方法。

用X*线衍*仪、光学金相显微镜、透*电镜和扫描电镜研究了磁体的结构; 用磁强自动记录仪测量了磁体的退磁曲线。

产品通过X*线衍*(XRD)、扫描电镜(sem)、能谱仪(EDS)测试,说明块料直接煅烧法生产的方石英具有转化率高、加工*能好、成本低等特点。

利用双晶X*线衍*技术测试了外延层,确定外延层的组分与晶体质量,并利用二次离子质谱仪进行了纵向组分分布剖析,利用扩展电阻仪确定外延层的电学特*。

用扫描电镜、能谱和X*线衍*测试其微观结构。

用X光电子能谱、X*线衍*、紫外可见吸收光谱、原子力显微镜等手段对制备的薄膜进行了表征。

采用偏光显微镜研究沉积热解炭的组织结构;用X*线衍*仪研究C/C复合材料的石墨化度和微晶尺寸;

但是对于喹吖啶*的一些衍生物,很难形成单晶,也就无法用X*线衍*来表征其结构。

X*线衍*及透*电子显微镜来表征。

用X-*线衍*、等离子发*光谱法对来源于九个不同产地的矿物*禹余粮作了较为全面的分析与研究。

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